パターン識別　Patten Classfication Patent Classification（クラシフィケーション） | LexisNexis

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Patent Classification（クラシフィケーション） | LexisNexis。Development of a Wafer Defect Pattern Classifier Using Polar。Development of a Wafer Defect Pattern Classifier Using Polar。パターン識別　Patten Classfication Second EditionRicard O.Duda Peter E.Hart Daivid G.Stork 監訳：尾上守夫大型本: 659ページ言語: 日本語ISBN-10: 4915851249発売日： 2001/7/3John Wiley & Sons 新技術コミュニケーション2001年の発売だたんですね。定価10,000円とあります。ご了承下さい。。日経NETWORK 2020年8月号〜2024年11月号52冊＋バラ2冊。感動します。コンピュータ・IT IBM Signature Selling Method (SSM)。PHP本まとめ売りプログラミング入門・実践・MySQL・正規表現参考書セット。値引き交渉は致しません。蘇るBASICプログラミングプチコン公式活用テクニック。POWER+UP 米国オタクゲーマーの記したニッポンTVゲーム興隆の軌跡。ご検討の程、よろしくお願いします。NEUROSIM/Lによるニューラルネットワーク入門